考题
（哈科）THDS-C系统，光子探头的制冷电流不稳定容易造成探头测温出现误差。
考题
THDS-A（哈科所）探测站，光子探头元件温度异常会造成（）。A、测温误差大B、测温良好C、测温稳定D、测温不变
考题
THDS-A（哈科所）系统，光子探头的静态噪声是恒定不变的。
考题
THDS-A（哈科所）探测站的轴温传感器包括（）。A、热敏探头和交流探头B、热敏探头和光子探头C、直流探头和交流探头D、光子探头和交流探头
考题
THDS-A（哈科所）系统，光子探头的静态噪声超过150毫伏时应更换探头。
考题
THDS-A（哈科所）系统，光子探头元件工作温度应该为0度以下。
考题
THDS-A（哈科所）探测站，红外轴温探测系统制冷电流不稳定容易造成探头测温（）。A、一致性好B、精确性高C、误差大D、可靠
考题
THDS-A（哈科所）系统，光子探头元件温度异常可能与光子探头有关。
考题
THDS-A（哈科所）系统，光子探头的制冷电流不稳定容易造成探头测温出现误差。
考题
THDS-A（哈科所）系统，双侧热靶曲线为一个点，可能造成双侧探头测温异常。
考题
THDS-A（哈科所）探测站，光子探头板温异常产生的后果（）。A、探头出现问题B、无法正确测曲线C、环温出现异常D、影响轴温测温精度E、不影响轴温测温精度
考题
THDS-A（哈科所）系统光子探头的元件温度是由控制箱内的探头温控板控制的。
考题
THDS-A（哈科所）系统，光子探头如遇探头镜面太脏致使测温过低时，可以擦拭后直接接车。
考题
THDS-A（哈科所）系统，光子探头的制冷电流最大值为0.95A，制冷电流过高或过低会影响器件制冷温度的深度。
考题
判断题THDS-A（哈科所）系统，光子探头的制冷电流最大值为0.95A，制冷电流过高或过低会影响器件制冷温度的深度。A
对B
错
考题
判断题（哈科）THDS-C系统，光子探头的制冷电流不稳定容易造成探头测温出现误差。A
对B
错
考题
判断题THDS-A（哈科所）系统光子探头的元件温度是由控制箱内的探头温控板控制的。A
对B
错
考题
判断题THDS-A（哈科所）系统，光子探头元件工作温度应该为0度以下。A
对B
错
考题
判断题THDS-A（哈科所）系统，光子探头元件温度异常可能与光子探头有关。A
对B
错
考题
单选题THDS-A（哈科所）探测站的轴温传感器包括（）。A
热敏探头和交流探头B
热敏探头和光子探头C
直流探头和交流探头D
光子探头和交流探头
考题
判断题THDS-A（哈科所）系统，光子探头的静态噪声超过150毫伏时应更换探头。A
对B
错
考题
判断题THDS-A（哈科所）系统，左侧热靶曲线为一条水平直线，可能造成左侧探头测温异常。A
对B
错
考题
判断题THDS-A（哈科所）系统，光子探头的静态噪声是恒定不变的。A
对B
错
考题
多选题THDS-A（哈科所）探测站，光子探头板温异常产生的后果（）。A探头出现问题B无法正确测曲线C环温出现异常D影响轴温测温精度E不影响轴温测温精度
考题
判断题THDS-A（哈科所）系统，光子探头如遇探头镜面太脏致使测温过低时，可以擦拭后直接接车。A
对B
错
考题
单选题THDS-A（哈科所）探测站，光子探头元件温度异常会造成（）。A
测温误差大B
测温良好C
测温稳定D
测温不变
考题
单选题THDS-A（哈科所）探测站，红外轴温探测系统制冷电流不稳定容易造成探头测温（）。A
一致性好B
精确性高C
误差大D
可靠