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问答题
叙述如何用X射线进行物相分析及注意事项。
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考题
原子受高能辐射，其内层电子发生能级跃迁，发射出特征X射线（X射线荧光），通过测定其强度进行定量分析的方法被称为（）A、原子荧光分析法B、X射线荧光分析法C、X射线吸收分析法D、X射线发射分析法
考题
用内标法进行X射线荧光进行定量分析，选择内标物应遵循（）A、内标物与被测物的激发X射线波长相近，基体对两者荧光吸收相近B、内标物与被测物的激发X射线波长相差大，基体对两者荧光吸收相近C、内标物与被测物的激发X射线波长相近，，基体对两者荧光吸收相差大D、两者的激发X射线波长相差大，基体对两者荧光吸收相差大
考题
单选题原子受高能辐射，其内层电子发生能级跃迁，发射出特征X射线（X射线荧光），通过测定其强度进行定量分析的方法被称为（）A
原子荧光分析法B
X射线荧光分析法C
X射线吸收分析法D
X射线发射分析法
考题
单选题用内标法进行X射线荧光进行定量分析，选择内标物应遵循（）A
内标物与被测物的激发X射线波长相近，基体对两者荧光吸收相近B
内标物与被测物的激发X射线波长相差大，基体对两者荧光吸收相近C
内标物与被测物的激发X射线波长相近，，基体对两者荧光吸收相差大D
两者的激发X射线波长相差大，基体对两者荧光吸收相差大
考题
问答题指出下列叙述中的错误，并予以改正：“对材料AmBn的研究方法是：用X射线衍射仪器对材料进行含量及显微组织形貌的测定；用扫描电镜对材料进行物相分析，确定其晶体学参数；用透射电镜对材料界面、结合组态进行测试分析”。
考题
问答题简述X射线物相定性鉴定程序
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