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射线底片上影像所代表的缺陷性质的识别通常可以从缺陷影像的几何形状、()和位置进行综合分析。

  • A、长度
  • B、厚度
  • C、大小
  • D、黑度分布

参考答案

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考题 射线检测时,使用透度计的主要目的是___。A.测量缺陷大小B.测量底片黑度C.测量几何不清晰度D.衡量透照底片的影像质量

考题 射线照相检测中,缺陷的取向与射线方向()时,可在底片上获得最清晰的缺陷影像。

考题 工件射线透照时,靠近射线源侧的缺陷,在底片上所呈的影像可能会产生()A、影像重叠B、影像畸变C、影像放大D、以上都有可能

考题 在底片的评定中,一般根据底片上影像的什么来判断缺陷性质?()A、数量和密度B、形状C、大小和位置D、b和c

考题 缺陷沿射线方向的尺寸与底片上缺陷影像的大小成正比。

考题 工件内部如有一面积型缺陷,当该缺陷面与射线投照方向成90°夹角时,在底片上的影像最清晰。

考题 利用照相法进行射线探伤,底片上缺陷的形状和大小与真实缺陷是完全一样的。

考题 从可检出最小缺陷尺寸的意义上说,射线照相灵敏度取决于()A、胶片粒度B、底片上缺陷影像的不清晰度C、底片上缺陷影像的对比度D、以上都是

考题 影响射线照像影像清晰度的三个因素为()A、散射、工件几何形状及底片黑度B、底片黑度、曝光时间及管电流C、曝光时间、管电流及底片颗粒度D、散射、工件几何形状及底片颗粒度

考题 在射线底片上,使缺陷影像发生畸变最重要的原因是()A、射源尺寸B、射源到缺陷的距离C、缺陷到胶片的距离D、缺陷相对于射源和胶片的位置和方向

考题 工件中缺陷的取向与X射线入射方向()时,在底片上能获得最清晰的缺陷影像。A、垂直B、平行C、倾斜45°D、都可以

考题 射线照片上缺陷影像的定性判断主要依据该影像的()A、形状B、黑度C、位置D、以上都是

考题 射线探伤时,使用透度计的主要目的是()A、测量缺陷大小B、测量底片黑度C、测量几何不清晰度D、衡量透照底片的影像质量

考题 夹钨缺陷在X射线照相底片上的影像呈现为黑色块状

考题 厚度逐渐变化的缺陷要比厚度突变的缺陷在底片上产生的影像清晰度差。

考题 ()对缺陷影像在射线底片上的显示对比度和清晰度有很大影响。

考题 射线底片上影像所代表的缺陷性质的识别通常可以从()黑度分布和位置进行综合分析。A、缺陷影像的几何形状B、缺陷影像的厚度C、缺陷影像的大小D、缺陷影像的长度

考题 单选题工件射线透照时,靠近射线源侧的缺陷,在底片上所呈的影像可能会产生()A 影像重叠B 影像畸变C 影像放大D 以上都有可能

考题 判断题夹钨缺陷在X射线照相底片上的影像呈现为黑色块状A 对B 错

考题 单选题射线探伤时,使用透度计的主要目的是()A 测量缺陷大小B 测量底片黑度C 测量几何不清晰度D 衡量透照底片的影像质量

考题 单选题射线照片上缺陷影像的定性判断主要依据该影像的()A 形状B 黑度C 位置D 以上都是

考题 单选题在射线底片上,使缺陷影像发生畸变最重要的原因是()A 射源尺寸B 射源到缺陷的距离C 缺陷到胶片的距离D 缺陷相对于射源和胶片的位置和方向

考题 单选题工件中缺陷的取向与X射线入射方向()时,在底片上能获得最清晰的缺陷影像。A 垂直B 平行C 倾斜45°D 都可以

考题 填空题射线照相检测中,缺陷的取向与射线方向()时,可在底片上获得最清晰的缺陷影像。

考题 单选题影响射线照像影像清晰度的三个因素为()A 散射、工件几何形状及底片黑度B 底片黑度、曝光时间及管电流C 曝光时间、管电流及底片颗粒度D 散射、工件几何形状及底片颗粒度

考题 单选题在底片的评定中,一般根据底片上影像的什么来判断缺陷性质?()A 数量和密度B 形状C 大小和位置D b和c

考题 单选题从可检出最小缺陷尺寸的意义上说,射线照相灵敏度取决于()A 胶片粒度B 底片上缺陷影像的不清晰度C 底片上缺陷影像的对比度D 以上都是