考题
工件内部如有一扁平状缺陷,当它的平面法线与射线方向成什么角度时,在底片上的影像最清晰?()
A、成45°夹角时B、成180°夹角时C、成90°夹角时D、成60°夹角时
考题
被检工件中缺陷的取向与超声波的入射方向（）时，可获得最大超声波反射波幅。A、垂直B、平行C、倾斜45°D、都可以
考题
射线照相检测中，缺陷的取向与射线方向（）时，可在底片上获得最清晰的缺陷影像。
考题
工件射线透照时，靠近射线源侧的缺陷，在底片上所呈的影像可能会产生（）A、影像重叠B、影像畸变C、影像放大D、以上都有可能
考题
在检验工件时，虽无缺陷回波，但底波高度剧烈下降，这可能是由于工件内的缺陷大而平且与入射声束取向不良，或存在疏松，晶粒粗大。
考题
缺陷沿射线方向的尺寸与底片上缺陷影像的大小成正比。
考题
工件内部如有一面积型缺陷，当该缺陷面与射线投照方向成90°夹角时，在底片上的影像最清晰。
考题
从可检出最小缺陷尺寸的意义上说，射线照相灵敏度取决于（）A、胶片粒度B、底片上缺陷影像的不清晰度C、底片上缺陷影像的对比度D、以上都是
考题
在射线底片上，使缺陷影像发生畸变最重要的原因是（）A、射源尺寸B、射源到缺陷的距离C、缺陷到胶片的距离D、缺陷相对于射源和胶片的位置和方向
考题
工件中缺陷的取向与X射线入射方向（）时，在底片上能获得最清晰的缺陷影像。A、垂直B、平行C、倾斜45°D、都可以
考题
从可检出最小缺陷的意义上说，射线照相灵敏度取决于（）A、底片成象颗粒度B、底片上缺陷图像不清晰度C、底片上缺陷图像对比度D、以上都是
考题
在超声检测中，当缺陷的取向与超声波入射方向（）时，能获得最大的超声波反射。
考题
夹钨缺陷在X射线照相底片上的影像呈现为黑色块状
考题
厚度逐渐变化的缺陷要比厚度突变的缺陷在底片上产生的影像清晰度差。
考题
（）对缺陷影像在射线底片上的显示对比度和清晰度有很大影响。
考题
照相上能发现工件中沿射线穿透方向上缺陷的最小尺寸称为：（）。A、照相反差B、照相清晰度C、照相梯度D、照相灵敏度
考题
X射线照相灵敏度取决于（）。A、底片上缺陷影响的不清晰度B、底片黑度C、曝光时间D、以上都对
考题
在射线探伤中，影响缺陷检测的因素很多，除了X射线胶片和增感屏的特性、散射线对射线照相的影响外还有几何不清晰度、固有不清晰度、（）、射线的入射方向及透照厚度差等。
考题
在射线探伤中，为了对缺陷能较好的检测，一般的情况下射线中心束应垂直入射工件表面。
考题
单选题被检工件中缺陷的取向与超声波的入射方向（）时，可获得最大超声波反射波幅。A
垂直B
平行C
倾斜45°D
都可以
考题
单选题工件射线透照时，靠近射线源侧的缺陷，在底片上所呈的影像可能会产生（）A
影像重叠B
影像畸变C
影像放大D
以上都有可能
考题
单选题工件内部如有一扁平状缺陷，当它的平面法线与射线方向成什么角度时，在底片上的影像最清晰？（）A
成45°夹角时B
成180°夹角时C
成90°夹角时D
成60°夹角时
考题
判断题夹钨缺陷在X射线照相底片上的影像呈现为黑色块状A
对B
错
考题
单选题在射线底片上，使缺陷影像发生畸变最重要的原因是（）A
射源尺寸B
射源到缺陷的距离C
缺陷到胶片的距离D
缺陷相对于射源和胶片的位置和方向
考题
填空题在超声检测中，当缺陷的取向与超声波入射方向（）时，能获得最大的超声波反射。
考题
填空题射线照相检测中，缺陷的取向与射线方向（）时，可在底片上获得最清晰的缺陷影像。
考题
单选题从可检出最小缺陷尺寸的意义上说，射线照相灵敏度取决于（）A
胶片粒度B
底片上缺陷影像的不清晰度C
底片上缺陷影像的对比度D
以上都是