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介损出现负值是因为（）。

  • A、试验现场的电磁场干扰
  • B、被试品是容性的
  • C、被试品是感性的

参考答案

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考题 电容型设备相对介质损耗因数是指（）。A、被试设备与参考设备介损值的差值B、被试设备与参考设备介损值的比值C、参考设备与被试设备介损值的差值D、参考设备与被试设备介损值的比值
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考题 若电容量和介损试验结果超标，结合（）等试验项目结果综合判断。A、绝缘电阻B、绝缘油试验C、耐压D、红外成像E、高压介损
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考题 介质损耗出现负值是因为（）。A、被试品是阻性B、被试品是容性C、被试品是感性D、试验现场的电磁干扰
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考题 介损
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考题 理论线损不可能降到零，而统计线损却有可能降到负值。
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考题 测量变压器整体对地介损tgδ，可采用介损仪正接线及反接线。
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考题 测量绝缘介质出现负值的主要原因是（）A、标准电容有介损且大于被试品的介损B、电场干扰C、空间干扰D、湿度影响
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考题 当标准电容器有很大的介损时，实测试品（绝缘）介损一定为负值。
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考题 用反接线测量电磁式电流互感器的介损，一次加压，二次开路，对其测量介损tgδ值影响不大。
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考题 测量CVT分接电容C2的介损和电容量时，C2的“δ”点接介损电桥的高压端，主电容C1高压端接介损电桥的“Cx”端，用正接线法测试。由于“δ”点绝缘水平有限，为保护“δ”，试验电压不超过（）。A、10000VB、5000VC、2500VD、1000V
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考题 用QS1交流电桥测量介损tgδ出现负值的主要原因是磁场干扰。
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考题 在现场采用介损仪测量设备的介损tgδ时，若存在电场干扰，则在任意测试电源极性的情况下，所测得tgδ值一定比真实的tgδ增大。
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考题 用反接线方式，测量一台110kV电流互感器主绝缘介损tgδ，如介损仪本体接地不良，与其介损测量结果无关。
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考题 用正接接线方式，测量一台110kV耦合电容器主绝缘介损tgδ，如介损仪的Cx与其耦合电容的末屏（接地小套管）接触不良，影响介损测量结果准确性。
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考题 进行绝缘介损测量时，当标准电容受潮而有较大介损时会使实测绝缘介损减少。（）
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考题 判断题用QS1交流电桥测量介损tgδ出现负值的主要原因是磁场干扰。A 对B 错
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