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单选题
什么是使用像质计的局限性？（）
A
不能提供射线照相检验灵敏度的永久性证据
B
不能比较两种不同透照技术的质量高低；
C
不能提供可检出缺陷尺寸的度量指示
D
不能验证所用透照工艺的适当性
参考答案
参考解析
解析：
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考题
下述有关像质计特质的叙述中，不正确的是（）A、像质计材质和试件有相当的射线吸收系数B、像质计形状与尺寸都是已知的C、像质计和试件一起成像，而用来鉴定试件品质的重要工具D、像质计并不直接用来和缺陷尺寸相比较
考题
以下有关放置像质计的说法正确的是（）A、原则上每一张射线底片都应放置像质计B、周向曝光技术中，在至少每隔120º的位置上放置一个像质计C、像质计一般放在射线底片的两端，像质计最细的金属丝应靠近端头处D、以上都对
考题
有关像质计使用的说法正确的是（）A、摆放像质计时，摆放位置一般是在射线透照区内灵敏度较低部位B、采用单壁透照法时，像质计如不能放在近射源侧的表面则要做对比试验C、当像质计摆放在胶片侧时应加放“F”标记D、以上都对
考题
单选题有关像质计使用的说法正确的是（）A
摆放像质计时，摆放位置一般是在射线透照区内灵敏度较低部位B
采用单壁透照法时，像质计如不能放在近射源侧的表面则要做对比试验C
当像质计摆放在胶片侧时应加放“F”标记D
以上都对
考题
单选题下述有关像质计特质的叙述中，不正确的是（）A
像质计材质和试件有相当的射线吸收系数B
像质计形状与尺寸都是已知的C
像质计和试件一起成像，而用来鉴定试件品质的重要工具D
像质计并不直接用来和缺陷尺寸相比较
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