考题
涡流探伤是一种探测零件或构件______缺陷的无损探伤方法。
A.表面B.近表面C.表面和近表面D.内部
考题
为探测出焊缝中与表面成不同角度的缺陷，应采取的方法是()A.提高探测频率
B.用多种角度探头探测
C.修磨探伤面
D.以上都可以
考题
联合双直探头的最主要用途是：（）A、探测近表面缺陷B、精确测定缺陷长度C、精确测定缺陷高度D、用于表面缺陷探伤
考题
近表面的缺陷用哪种方法探测最好？（）A、后乳化渗透法B、着色渗透法C、可水洗型荧光渗透法D、以上方法均不能探测近表面的缺陷
考题
近表面下的缺陷用哪种方探测最好（）A、后乳化型渗透法B、着色渗透法C、水洗型荧光渗透法D、以上方法均不能探测近表面下的缺陷
考题
探测出焊缝中与表面成不同角度的缺陷，应采用的方法是（）A、提高探测频率B、用多种角度探头探测C、修磨探伤面D、以上都可以
考题
双晶直探头的最主要用途是（）。A、探测近表面缺陷B、精确测定缺陷长度C、精确测定缺陷高度D、用于表面缺陷检测
考题
提高近表面缺陷的探测能力的方法是（）A、用TR探头B、使用窄脉冲宽频带探头C、提高探头频率，减小晶片尺寸D、以上都是
考题
提高探头频率，增大晶片尺寸可以提高近表面缺陷的探测能力
考题
磁粉探伤方法只能探测开口于试件表面的缺陷，而不能探测近表面缺陷
考题
磁粉探伤方法只能检测开口于试件表面的缺陷，而不能探测近表面缺陷。（）
考题
表面波探头用于探测工件（）缺陷。A、近表面B、表面C、内部D、平面形
考题
双晶探头用于探测工件（）缺陷。A、近表面B、表面C、内部D、平面形
考题
为探测出焊缝中与表面成不同角度的缺陷，应采取的方法是（）A、提高探测频率B、用多种角度探头探测C、修磨探伤面D、以上都可以
考题
磁粉检测只能探测开口于时间表面的缺陷，而不能探测近表面缺陷。（）
考题
判断题磁粉检测只能探测开口于时间表面的缺陷，而不能探测近表面缺陷。（）A
对B
错
考题
单选题联合双直探头的最主要用途是：（）A
探测近表面缺陷B
精确测定缺陷长度C
精确测定缺陷高度D
用于表面缺陷探伤
考题
单选题双晶直探头的最主要用途是（）。A
探测近表面缺陷B
精确测定缺陷长度C
精确测定缺陷高度D
用于表面缺陷检测
考题
单选题射线探伤是探测零件（）缺陷的无损探伤方法。A
表面B
近表面C
内部D
表面和内部
考题
单选题近表面下的缺陷用哪种方探测最好（）A
后乳化型渗透法B
着色渗透法C
水洗型荧光渗透法D
以上方法均不能探测近表面下的缺陷
考题
问答题采取什么措施可以提高近表面缺陷的检测能力？
考题
单选题为探测出焊缝中与表面成不同角度的缺陷，应采取的方法是（）A
提高探测频率B
用多种角度探头探测C
修磨探伤面D
以上都可以
考题
单选题探测出焊缝中与表面成不同角度的缺陷，应采用的方法是（）A
提高探测频率B
用多种角度探头探测C
修磨探伤面D
以上都可以
考题
判断题磁粉探伤方法只能探测开口于试件表面的缺陷，而不能探测近表面缺陷。A
对B
错
考题
单选题近表面的缺陷用哪种方法探测最好？（）A
后乳化渗透法B
着色渗透法C
可水洗型荧光渗透法D
以上方法均不能探测近表面的缺陷