考题
下列哪项可以既提高轴向分辨率又提高横向分辨率A．缩短脉冲长度B．使束宽变窄C．增大声束直径D．提高探头频率E．降低探头频率
考题
为探测出焊缝中与表面成不同角度的缺陷，应采取的方法是()A.提高探测频率
B.用多种角度探头探测
C.修磨探伤面
D.以上都可以
考题
探头的晶片尺寸增加对探头的（）有不利影响。A、 声束的指向性B、 近场区长度C、 远距离缺陷检出能力D、 以上都是
考题
探测出焊缝中与表面成不同角度的缺陷，应采用的方法是（）A、提高探测频率B、用多种角度探头探测C、修磨探伤面D、以上都可以
考题
当要求探头有最大灵敏度时（）。A、应使用直探头B、要使用大晶片探头C、压电元件应在其基频上激发D、探头的频带应尽可能宽
考题
减少脉冲宽度的途径是提高发射频率，加大探头的通频带，使用聚焦探头。
考题
在液浸探伤时可消除探头近场影响的方法是（）A、提高频率B、用大直径探头C、改变水层距离D、用聚焦探头探测
考题
频率（）的探头容易产生（）的脉冲，因此在探测薄工件和近表面缺陷时，应选择（）频率的探头。
考题
提高探头频率，增大晶片尺寸可以提高近表面缺陷的探测能力
考题
探头晶片尺寸（），近场区长度增加，对近表面的缺陷探测不利。
考题
探头晶片尺寸（），近场区长度增加，对近表面探伤不利。A、增加B、减小C、不变
考题
频率高的探头容易产生（）的脉冲，因此在探测薄工件和近表面缺陷时应选择（）频率的探头。
考题
为探测出焊缝中与表面成不同角度的缺陷，应采取的方法是（）A、提高探测频率B、用多种角度探头探测C、修磨探伤面D、以上都可以
考题
在平整光洁表面上作直探头探伤是宜使用硬保护膜探头，因为这样（）A、虽然耦合损耗大，但有利于减小工件中噪声B、脉冲窄，探测灵敏度高C、探头与仪器匹配较好D、以上都对
考题
检验近表面缺陷时，最好采用联合双晶探头是因为该探头晶片前面带有机玻璃延迟块，减小了纵波单晶探头存在的阻塞。
考题
双晶片联合探头，由于盲区较小，因此有利于近表面缺陷的探测。
考题
判断题减少脉冲宽度的途径是提高发射频率，加大探头的通频带，使用聚焦探头。A
对B
错
考题
单选题下列哪项可以既提高轴向分辨率又提高横向分辨率？（ ）A
缩短脉冲长度B
使束宽变窄C
增大声束直径D
提高探头频率E
降低探头频率
考题
填空题频率（）的探头容易产生（）的脉冲，因此在探测薄工件和近表面缺陷时，应选择（）频率的探头。
考题
填空题探头晶片尺寸（），近场区长度增加，对近表面的缺陷探测不利。
考题
单选题在平整．光洁表面上作直探头探伤是宜使用硬保护膜探头，因为这样：（）A
虽然耦合损耗大，但有利于减小工件中噪声B
脉冲窄，探测灵敏度高C
探头与仪器匹配较好D
以上都对
考题
单选题为探测出焊缝中与表面成不同角度的缺陷，应采取的方法是（）A
提高探测频率B
用多种角度探头探测C
修磨探伤面D
以上都可以
考题
单选题在液浸探伤时可消除探头近场影响的方法是（）A
提高频率B
用大直径探头C
改变水层距离D
用聚焦探头探测
考题
单选题探测出焊缝中与表面成不同角度的缺陷，应采用的方法是（）A
提高探测频率B
用多种角度探头探测C
修磨探伤面D
以上都可以
考题
单选题提高近表面缺陷的探测能力的方法是（）A
用TR探头B
使用窄脉冲宽频带探头C
提高探头频率，减小晶片尺寸D
以上都是
考题
单选题探头的晶片尺寸增加对探头的（）有不利影响。A
声束的指向性B
近场区长度C
远距离缺陷检出能力D
以上都是
考题
填空题频率高的探头容易产生（）的脉冲，因此在探测薄工件和近表面缺陷时应选择（）频率的探头。