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单选题
HTK-391热敏探头5min内漂移电压Vp-p,应小于()。
A

100mV

B

150mV

C

50mV

D

30mV


参考答案

参考解析
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考题 THDS-A探测系统调制探头的大修标准是()A、直接更换B、静态噪声:Vp-p<100mVC、动态噪声:Vp-p<150mVD、探头标定:误差在±1℃以内

考题 (康拓)THDS-B系统“探头噪声测量”菜单可以检测光子探头和热敏探头的噪声,并且还可以检测光子探头的漂移。

考题 THDS-A探测系统直流探头的大修标准是()A、直接更换B、探头在保持状态下噪声Vp-p<100mVC、5分钟漂移200mVD、探头标定:误差在±1℃以内

考题 THDS-A(哈科所)探测站设备月检标准中漂移值允许值为探制箱通电30分钟后,手动点击漂移测试,5分钟后查看漂移结果(),超标换修。A、Vp-p≤100mVB、Vp-p≤150mVC、Vp-p≤200mVD、Vp-p≤300mV

考题 (哈科)THDS-C系统月检时要求直流光子探头漂移小于150mV/5min。

考题 HTK-391型轴温探测系统探头板上基准电压源可产生()左右的电压,固定接在第十一通道上。

考题 热敏探头在保持状态下噪声应小于()mVVp-p,超标换修。

考题 红外线探头漂移电压的测量方法?

考题 HTK-391型轴温探测系统探头零点漂移(10min)为()。

考题 (哈科)THDS-B系统内探探头采用热敏直流探头。

考题 THDS-A(哈科所)系统,热敏探头的5分钟漂移电压峰峰超过150毫伏时应更换探头。

考题 THDS-A(哈科所)探测站中光子探头应满足以下()技术要求。A、噪声电压<80mVB、漂移<150mVC、噪声电压<100mVD、漂移<200mVE、噪声电压<150mV

考题 判断题THDS-A(哈科所)系统,热敏探头的5分钟漂移电压峰峰超过150毫伏时应更换探头。A 对B 错

考题 多选题THDS-A(哈科所)探测站中光子探头应满足以下()技术要求。A噪声电压<80mVB漂移<150mVC噪声电压<100mVD漂移<200mVE噪声电压<150mV

考题 单选题在保持状态下直流热敏探头5分钟漂移超过()需要更换A 100mVB 200mVC 250mVD 150mV

考题 单选题HZT-2000型热敏探头噪声电压Vp-p,应小于()。A 100mVB 50mVC 30mVD 10mV

考题 单选题HTK-499型热敏探头5min内漂移电压应小于()。A 100mvB 150mvC 50mvD 200mv

考题 单选题THDS-BS系统光子探头的保持状态下噪声应小于()Vp-p,超标换修。A 100mVB 50mVC 200mVD 20mV

考题 问答题红外线探头漂移电压的测量方法?

考题 单选题THDS-A探测系统直流探头的大修标准是()A 直接更换B 探头在保持状态下噪声Vp-p<100mVC 5分钟漂移200mVD 探头标定:误差在±1℃以内

考题 单选题(哈科)THDS-B系统热敏探头在动态噪声应小于()Vp-p,超标换修。A 100mVB 50mVC 200mVD 150mV

考题 判断题(哈科)THDS-C系统月检时要求直流光子探头漂移小于150mV/5min。A 对B 错

考题 填空题热敏探头在保持状态下噪声应小于()mVVp-p,超标换修。

考题 单选题HTK-391热敏探头噪声电压Vp-p,应小于()。A 100mVB 50mVC 30mVD 10mV

考题 判断题(康拓)THDS-B系统“探头噪声测量”菜单可以检测光子探头和热敏探头的噪声,并且还可以检测光子探头的漂移。A 对B 错

考题 填空题HTK-391型轴温探测系统探头零点漂移(10min)为()。