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单选题
工件内部如有一扁平状缺陷，当它的平面法线与射线方向成什么角度时，在底片上的影像最清晰？（）
A

成45°夹角时

B

成180°夹角时

C

成90°夹角时

D

成60°夹角时

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考题 工件内部如有一扁平状缺陷,当它的平面法线与射线方向成什么角度时,在底片上的影像最清晰?() A、成45°夹角时B、成180°夹角时C、成90°夹角时D、成60°夹角时
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考题 射线照相检测中，缺陷的取向与射线方向（）时，可在底片上获得最清晰的缺陷影像。
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考题 工件射线透照时，靠近射线源侧的缺陷，在底片上所呈的影像可能会产生（）A、影像重叠B、影像畸变C、影像放大D、以上都有可能
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考题 X射线在大晶粒材料中衍射而引起的一种特殊形式的散射线会使底片上出现（）状影像。
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考题 缺陷沿射线方向的尺寸与底片上缺陷影像的大小成正比。
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考题 工件内部如有一面积型缺陷，当该缺陷面与射线投照方向成90°夹角时，在底片上的影像最清晰。
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考题 背吃刀量αp是指主刀刃与工件切削表面接触长度（）。A、在切削平面的法线方向上测量的值B、正交平面的法线方向上测量的值C、在基面上的投影值D、在主运动及进给运动方向所组成的平面的法线方向上测量的值
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考题 产品被检部位如有吸收射线、（）较少、底片上感光量增大，证明被检部位内部有缺陷。A、原子B、粒子C、光子D、分子
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考题 从可检出最小缺陷尺寸的意义上说，射线照相灵敏度取决于（）A、胶片粒度B、底片上缺陷影像的不清晰度C、底片上缺陷影像的对比度D、以上都是
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考题 影响射线照像影像清晰度的三个因素为（）A、散射、工件几何形状及底片黑度B、底片黑度、曝光时间及管电流C、曝光时间、管电流及底片颗粒度D、散射、工件几何形状及底片颗粒度
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考题 在射线底片上，使缺陷影像发生畸变最重要的原因是（）A、射源尺寸B、射源到缺陷的距离C、缺陷到胶片的距离D、缺陷相对于射源和胶片的位置和方向
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考题 对底片上怀疑是伪缺陷迹象的判别方法是（）A、从底片两侧观察该迹象是否表面反光B、视线与底片平面法线成较大的角度观察是否底片划伤C、用放大镜作局部观察D、核查被透照工件实物表面与所用增感屏情况E、以上都是
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考题 工件中缺陷的取向与X射线入射方向（）时，在底片上能获得最清晰的缺陷影像。A、垂直B、平行C、倾斜45°D、都可以
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考题 射线探伤时，使用透度计的主要目的是（）A、测量缺陷大小B、测量底片黑度C、测量几何不清晰度D、衡量透照底片的影像质量
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考题 射线照相时，不同的投影角度会使工件上不同部位的特征点在底片上的相对位置改变。
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考题 夹钨缺陷在X射线照相底片上的影像呈现为黑色块状
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考题 （）对缺陷影像在射线底片上的显示对比度和清晰度有很大影响。
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考题 当缺陷方向与磁力线方向（）时，缺陷显示最为清晰。A、垂直B、成45°夹角C、成60°夹角D、成水平方向
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考题 关于天线的极化方式，下列说法正确的是（）。A、天线辐射波的磁场方向在入射面入射线与反射面法线形成的平面内，称为垂直极化B、天线辐射波的电场方向在入射面入射线与反射面法线形成的平面内，称为垂直极化C、天线辐射波的磁场方向垂直于入射面入射线与反射面法线形成的平面，称为水平极化D、天线辐射波的电场方向垂直于入射面入射线与反射面法线形成的平面，称为水平极化
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考题 单选题工件射线透照时，靠近射线源侧的缺陷，在底片上所呈的影像可能会产生（）A 影像重叠B 影像畸变C 影像放大D 以上都有可能
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考题 单选题对底片上怀疑是伪缺陷迹象的判别方法是（）A 从底片两侧观察该迹象是否表面反光B 视线与底片平面法线成较大的角度观察是否底片划伤C 用放大镜作局部观察D 核查被透照工件实物表面与所用增感屏情况E 以上都是
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考题 单选题工件中缺陷的取向与X射线入射方向（）时，在底片上能获得最清晰的缺陷影像。A 垂直B 平行C 倾斜45°D 都可以
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考题 单选题当光从光密介质向光疏介质传播时，在下列那种情况下必定出现临界角（）A 入射线与法线一致B 入射线与界面呈45°C 折射线沿分界面方向D 折射线与法线所构成的角度等于入射角
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考题 填空题射线照相检测中，缺陷的取向与射线方向（）时，可在底片上获得最清晰的缺陷影像。
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考题 单选题当缺陷方向与磁力线方向（）时，缺陷显示最为清晰。A 垂直B 成45°夹角C 成60°夹角D 成水平方向
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考题 单选题影响射线照像影像清晰度的三个因素为（）A 散射、工件几何形状及底片黑度B 底片黑度、曝光时间及管电流C 曝光时间、管电流及底片颗粒度D 散射、工件几何形状及底片颗粒度
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考题 单选题从可检出最小缺陷尺寸的意义上说，射线照相灵敏度取决于（）A 胶片粒度B 底片上缺陷影像的不清晰度C 底片上缺陷影像的对比度D 以上都是
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