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在射线底片上的线状斑纹，在大多数情况下其影像具有清晰的形貌，影像的黑度也较大，这种显示很可能是（）

  • A、裂缝
  • B、夹渣
  • C、擦痕
  • D、以上都不是

参考答案

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考题 射线照相检测中，缺陷的取向与射线方向（）时，可在底片上获得最清晰的缺陷影像。
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考题 若射线底片能出现像质计的必要的孔洞影像，则表示该底片具有足够的（）A、对比度B、清晰度C、灵敏度D、宽容度
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考题 工件射线透照时，靠近射线源侧的缺陷，在底片上所呈的影像可能会产生（）A、影像重叠B、影像畸变C、影像放大D、以上都有可能
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考题 X射线在大晶粒材料中衍射而引起的一种特殊形式的散射线会使底片上出现（）状影像。
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考题 晶粒较粗大的材料，在一定的射线透照条件下，射线底片上可能产生衍射斑纹。
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考题 在射线底片上呈现较大面积的树枝形影像是（）。
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考题 缺陷沿射线方向的尺寸与底片上缺陷影像的大小成正比。
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考题 工件内部如有一面积型缺陷，当该缺陷面与射线投照方向成90°夹角时，在底片上的影像最清晰。
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考题 从可检出最小缺陷尺寸的意义上说，射线照相灵敏度取决于（）A、胶片粒度B、底片上缺陷影像的不清晰度C、底片上缺陷影像的对比度D、以上都是
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考题 工件中缺陷的取向与X射线入射方向（）时，在底片上能获得最清晰的缺陷影像。A、垂直B、平行C、倾斜45°D、都可以
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考题 在射线检测之前，对接焊接接头的表面应经外观检测并合格。表面的不规则状态在底片上的影像（）或（），否则应对表面作适当修整。
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考题 在相同检测条件下，同一缺陷所在试件位置越靠近底片侧时，则（）A、其影像放大得越大，而其几何不清晰度变大B、其影像放大得越小，而其几何不清晰度变大C、其影像放大得越大，而其几何不清晰度变小D、其影像放大得越小，而其几何不清晰度变小
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考题 用铅箔增感屏得到的底片，物体影像的清晰度不好，要想改善其清晰度，可以（）A、改用粗粒胶片B、改用大焦点射线源C、增大射线源到胶片的距离D、改用荧光增感屏
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考题 试样中靠近射线源侧的缺陷影像，在（）情况下其清晰度不好A、射线源到物体距离增大B、试样厚度增大C、焦点尺寸减小D、试样厚度减小
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考题 夹钨缺陷在X射线照相底片上的影像呈现为黑色块状
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考题 射线照像是以射线穿透试件而投影在底片上的，因此影像轮廓会（）A、放大B、变形C、模糊D、以上都对
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考题 （）对缺陷影像在射线底片上的显示对比度和清晰度有很大影响。
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考题 当改变透照电压时，衍射斑纹在射线照片上的影像一般（）。A、无变化B、有明显变化C、衍射斑纹的形成与管电压无关D、以上全是
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考题 单选题试样中靠近射线源侧的缺陷影像，在（）情况下其清晰度不好A 射线源到物体距离增大B 试样厚度增大C 焦点尺寸减小D 试样厚度减小
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考题 单选题工件射线透照时，靠近射线源侧的缺陷，在底片上所呈的影像可能会产生（）A 影像重叠B 影像畸变C 影像放大D 以上都有可能
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考题 单选题射线照像是以射线穿透试件而投影在底片上的，因此影像轮廓会（）A 放大B 变形C 模糊D 以上都对
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考题 单选题若射线底片能出现像质计的必要的孔洞影像，则表示该底片具有足够的（）A 对比度B 清晰度C 灵敏度D 宽容度
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考题 单选题工件中缺陷的取向与X射线入射方向（）时，在底片上能获得最清晰的缺陷影像。A 垂直B 平行C 倾斜45°D 都可以
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考题 填空题射线照相检测中，缺陷的取向与射线方向（）时，可在底片上获得最清晰的缺陷影像。
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考题 单选题在射线底片上的线状斑纹，在大多数情况下其影像具有清晰的形貌，影像的黑度也较大，这种显示很可能是（）A 裂缝B 夹渣C 擦痕D 以上都不是
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考题 单选题从可检出最小缺陷尺寸的意义上说，射线照相灵敏度取决于（）A 胶片粒度B 底片上缺陷影像的不清晰度C 底片上缺陷影像的对比度D 以上都是
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