考题
对负的外部效应的矫正，目的在于（）A.消除负的外部效应B.惩罚外部效应的施加者C.补偿外部效应的承受者D.将外部效应减少到可容忍的程度
考题
有关部分容积效应的叙述中，错误的是（）A、会遗漏小病变B、可产生假像C、改变选层位置可消除此效应D、增加扫描层厚可消除此效应E、对可疑部位边缘作垂直方向扫描可消除此效应
考题
简述X射线荧光分析中的基体效应，以及克服或校正基体效应的方法。
考题
不能消除原子荧光光谱中干扰荧光谱线的方法是（）。A、增加灯电流B、选用其他的荧光分析线C、加入络合剂络合干扰元素D、预先化学分离干扰元素
考题
不影响X荧光分析的主要因素有（）。A、粒度效应B、矿物效应C、基体效应D、光电效应
考题
X射线荧光分析时基体效应的基体，是指分析时试样中除（）元素本身外其它所有的元素。A、气体B、惰性C、分析D、氧化性
考题
在X射线荧光分析中，当样品研磨到极细时，则（）基本消失；将样品制成薄层并薄到临界厚度以下时，分析线所受的（）与样品的组成无关。A、均匀性B、粒度效应C、辐射D、吸收-增强效应
考题
不能消除原子荧光光谱中干扰光谱线的方法是：（）A、增加灯电流B、选择其他荧光分析线C、加入络合剂络合干扰元素D、预先化学分离干扰元素
考题
X射线荧光光谱分析中，当基体效应是增强效应时，将使所得被测元素的结果偏低。
考题
X射线荧光分析粉末试样时，采用玻璃熔片法可以消除（）带来的分析误差。A、粒度效应B、吸收C、增强D、矿物效应
考题
在X射线荧光光谱分析中，样品中除分析元素以外的全部元素为基体，基体元素对分析元素的影响叫基体效应。
考题
在X荧光分析中以下哪种方法不能消除吸收-增强效应（）。A、内标法B、数学校正法C、滤波D、稀释法
考题
X荧光分析中以下哪种方法不能消除吸收-增强效应（）。A、内标法B、数学校正法C、滤波D、稀释法
考题
影响X荧光分析的基体效应可分为元素间的（）、（）两类。
考题
简述X射线荧光光谱定量分析的基体效应？如何消除？
考题
粉末压片法X荧光仪分析高炉渣时，将试样颗粒在粉碎机内粉碎制成粒度约（）的粉末试样。A、100目B、120目C、150目D、180目
考题
X荧光分析粉末压片法分析烧结矿样品，样品的（）会造成分析误差。A、粒度效应B、矿物效应C、酸度变化
考题
对负的外部效应的矫正，目的在于（）A、消除负的外部效应B、惩罚外部效应的施加者C、补偿外部效应的承受者D、将外部效应减少到可容忍的程度
考题
什么是Donnan效应？如何消除Donnan效应？
考题
X线成像相关的特性中，"X线能激发荧光物质，并转换成可见的荧光"属于（）A、X线B、荧光效应C、感光效应D、电离效应E、X线的衰减
考题
用内标法进行X射线荧光定量分析可消除基体效应，内标物满足什么条件？
考题
问答题简述X射线荧光分析中的基体效应，以及克服或校正基体效应的方法。
考题
问答题为了消除X射线荧光定量分析时的基体效应，除了内标法和标准加入法外，还有哪几种方法？
考题
单选题有关部分容积效应的叙述中，错误的是（）A
会遗漏小病变B
可产生假像C
改变选层位置可消除此效应D
增加扫描层厚可消除此效应E
对可疑部位边缘作垂直方向扫描可消除此效应
考题
单选题在X荧光分析中，将物料进一步磨细的目的是（）。A
消除颗粒效应B
便于压片C
消除元素效应
考题
问答题用内标法进行X射线荧光定量分析可消除基体效应，内标物满足什么条件？
考题
单选题不能消除原子荧光光谱中干扰荧光谱线的方法是（）。A
增加灯电流B
选用其他的荧光分析线C
加入络合剂络合干扰元素D
预先化学分离干扰元素