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单选题
在X荧光分析中,将物料进一步磨细的目的是()。
A

消除颗粒效应

B

便于压片

C

消除元素效应


参考答案

参考解析
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考题 对负的外部效应的矫正,目的在于()A.消除负的外部效应B.惩罚外部效应的施加者C.补偿外部效应的承受者D.将外部效应减少到可容忍的程度

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考题 在X荧光分析中以下哪种方法不能消除吸收-增强效应()。A、内标法B、数学校正法C、滤波D、稀释法

考题 X荧光分析中以下哪种方法不能消除吸收-增强效应()。A、内标法B、数学校正法C、滤波D、稀释法

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考题 X荧光分析粉末压片法分析烧结矿样品,样品的()会造成分析误差。A、粒度效应B、矿物效应C、酸度变化

考题 对负的外部效应的矫正,目的在于()A、消除负的外部效应B、惩罚外部效应的施加者C、补偿外部效应的承受者D、将外部效应减少到可容忍的程度

考题 在X荧光分析中,将物料进一步磨细的目的是()。A、消除颗粒效应B、便于压片C、消除元素效应

考题 X线成像相关的特性中,"X线能激发荧光物质,并转换成可见的荧光"属于()A、X线B、荧光效应C、感光效应D、电离效应E、X线的衰减

考题 用内标法进行X射线荧光定量分析可消除基体效应,内标物满足什么条件?

考题 单选题在原子吸收光谱分析中,塞曼效应用来消除()A 物理干扰B 背景干扰C 化学干扰D 电离干扰

考题 填空题在原子吸收分析中,为了要消除喷雾系统和火焰系统带来的干扰,宜采用()法进行定量。若被测元素灵敏度太低,或者共振吸收在真空紫外区,则宜采用()法进行定量。为了消除基体效应的干扰,宜采用 ()法进行定量。

考题 问答题为了消除X射线荧光定量分析时的基体效应,除了内标法和标准加入法外,还有哪几种方法?

考题 单选题有关部分容积效应的叙述中,错误的是()A 会遗漏小病变B 可产生假像C 改变选层位置可消除此效应D 增加扫描层厚可消除此效应E 对可疑部位边缘作垂直方向扫描可消除此效应

考题 单选题组成功能的3个元素齐全,但产生了与设计者所追求的效应相左的、有害的效应,需要消除这些有害效应,是()A 有效完整模型B 不完整模型C 效应不足的完整模型D 有害效应的完整模型

考题 单选题对负的外部效应的矫正,目的在于()A 消除负的外部效应B 惩罚外部效应的施加者C 补偿外部效应的承受者D 将外部效应减少到可容忍的程度

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考题 单选题不能消除原子荧光光谱中干扰荧光谱线的方法是()。A 增加灯电流B 选用其他的荧光分析线C 加入络合剂络合干扰元素D 预先化学分离干扰元素