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单选题
在X荧光分析中,将物料进一步磨细的目的是()。
A
消除颗粒效应
B
便于压片
C
消除元素效应
参考答案
参考解析
解析:
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考题
填空题在原子吸收分析中,为了要消除喷雾系统和火焰系统带来的干扰,宜采用()法进行定量。若被测元素灵敏度太低,或者共振吸收在真空紫外区,则宜采用()法进行定量。为了消除基体效应的干扰,宜采用 ()法进行定量。
考题
单选题不能消除原子荧光光谱中干扰荧光谱线的方法是()。A
增加灯电流B
选用其他的荧光分析线C
加入络合剂络合干扰元素D
预先化学分离干扰元素
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