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探头盲区范围可在（）进行测量。

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考题 CSK-1A试块主要用于()A、探头分辨力及直探头盲区及穿透力B、声轴偏向角C、水平线性、垂直线性、动态范围D、前沿、K值及调整探测范围
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考题 以下哪一条，不属于双晶探头的优点()。A.检测范围大B.盲区小C.工件中近场长度小D.杂波小
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考题 下列关于BLIS盲区监测系统监测范围的描述,正确的是()。 A.盲区感应面积是以车辆前后保险杠下方探头为圆心，照射后方半径为3-12米之内的范围。B.盲区感应面积是以外后视镜下方探头为圆心，照射后方半径为1-6米之内的范围C.盲区感应面积是以外后视镜下方探头为圆心，照射后方半径为3-12米之内的范围D.盲区感应面积是以内后视镜下方探头为圆心，左右半径120°照射后方半径为5-10米之内的范围
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考题 SBZA侧面盲区接近预警，对左右侧盲区（）的范围进行实时监测。A、3.0mB、3.5mC、3.8mD、4.0m
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考题 双晶直探头由于延迟块的存在，避免了始脉冲引起的盲区问题，可以检测近表面缺陷和进行薄板检测。
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考题 探头若不加阻尼块，盲区会变小。
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考题 双晶片联合探头，由于盲区小，因此有利（）缺陷的探测。
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考题 SBZA侧面盲区接近预警，对左右侧盲区（）m的范围进行实时监测。A、3.0B、3.5C、3.8D、4.0
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考题 以下哪一条，不属于双晶探头的优点（）A、探测范围大B、盲区小C、工件中近场长度小D、杂波少
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考题 联合双直探头有（）块压电晶片，在电路上和声路上（），晶片前装有（），此种探头有盲区（），有助于（）的检出
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考题 减小探头盲区的方法主要是采用直径小的晶片制作探头。
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考题 利用IIW试块上的φ50孔两侧面的距离，只能测定直探头盲区的大致范围。
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考题 OTDR的工作特性中（）决定了OTDR所能测量的最远距离。A、盲区B、发射功率C、分辨率D、动态范围
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考题 盲区是指探头的（）。
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考题 探头盲区范围可在专用试块上进行测量。
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考题 CSK-IA试块将IIW试块的φ50孔改为φ40、φ44和φ50台阶孔，其目的是（）A、测定斜探头K值B、测定直探头盲区范围C、测定斜探头分辨率D、以上全部
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考题 CSK-1A试块有机玻璃可测定（）。A、直探头盲区B、直探头穿透能力C、直探头盲区和穿透能力D、上述都不能测
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考题 （）是表示OTDR测量光纤的长度指标。A、测量范围B、动态范围C、距离刻度D、衰减盲区
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考题 盲区决定OTDR测量精细程度的重要指标（）A、反射盲区B、距离盲区C、衰减盲区D、事件盲区
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考题 判断题减小探头盲区的方法主要是采用直径小的晶片制作探头。A 对B 错
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考题 填空题双晶片联合探头，由于盲区小，因此有利（）缺陷的探测。
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考题 判断题利用IIW试块上的φ50孔两侧面的距离，只能测定直探头盲区的大致范围。A 对B 错
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考题 单选题以下哪一条，不属于双晶探头的优点（）。A 检测范围大B 盲区小C 工件中近场长度小D 杂波小
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考题 单选题CSK-1A试块有机玻璃可测定（）。A 直探头盲区B 直探头穿透能力C 直探头盲区和穿透能力D 上述都不能测
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考题 判断题探头若不加阻尼块，盲区会变小。A 对B 错
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考题 单选题CSK-IB试块将IIW试块的Φ50孔改为Φ40、Φ44、Φ50台阶孔，其目的是（）A 测定斜探头K值B 测定直探头盲区范围C 测定斜探头分辨力D 以上全是
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