考题
千分尺的平面度是用()平面平晶进行检定的,它是根据()原理,利用光波干涉法进行的。
考题
用平面平晶检定量具表面平面度时,当入射角不变,而厚度各处有变化,干涉带发生于厚度相等的地方,这种现象称为()。
A、球面干涉B、等厚干涉C、等倾干涉
考题
常用的平面度的测量方法（）。A、光隙法B、测微仪法C、平晶法D、水平仪法
考题
干涉法是利用光波干涉原理测量表面粗糙度的一种测量方法。
考题
用平晶以光波干涉法检定量具工作面的平面度时，出现干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。A、球面干涉B、等倾干涉C、等厚干涉
考题
用平面平晶检验工件表面平面度时，当入射角不变，而厚度各处有变化，干涉带发生于厚度（）的地方，这种现象称为（）。
考题
以下列举了几种测量直线度误差的方法。其中，（）最简便实用，适用于小平面或短圆柱面素线的直线度误差测量。A、光学平晶等厚干涉法B、测微法C、激光准值仪法D、光隙法
考题
测量高精度的小平面的平面度误差宜用（）。A、准直望远镜B、罐式水平量器C、平晶
考题
测量平面度误差时，常将平面平晶工作面贴在被测表面上，并稍加压力，就会有干涉条纹出现。干涉条纹越多，则平面度误差（）。
考题
光学平晶等厚干涉法适用于测量精度较高的（）。A、大平面B、小平面C、圆柱面D、圆跳动
考题
外径千分尺平面度用二级平晶按（）检定A、光波法B、光干涉法C、光条纹法D、干涉条纹法
考题
技术光波干涉法可以检定测量面的平面度，是利用光波（）原理。
考题
检定千分表工作面的平面度用二级平晶用技术光波干涉法检定。
考题
在白光情况下，用平晶以技术光波干涉法检定量具工作面的平面度时，受检工作面的平面度一般应不大于（）。A、0.001mmB、0.002mmC、0.003mm
考题
若有一量具工作面的平面度为0.010mm，为了达到检定结果的准确起见，该工作面的平面度采用合适的检定方法为（）。A、用刀口尺以光隙法检定B、用平晶的技术光波干涉法检定C、用刀口尺以量块比较法检定
考题
用平面平晶的技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时，出现的干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。A、球面干涉B、等倾干涉C、等厚干涉
考题
检定千分尺测量面平面度时，初学人员用平面平晶往往在测量面上产生不了干涉条纹，主要原因是什么？
考题
用平晶检定工作面的平面度，是一种光波干涉法测量，那么产生光波干涉的条件是什么？
考题
单选题用平面平晶的技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时，出现的干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。A
球面干涉B
等倾干涉C
等厚干涉
考题
多选题常用的平面度的测量方法（）。A光隙法B测微仪法C平晶法D水平仪法
考题
单选题某一量具工作面的平面度，若在白光情况下用平晶以技术光波干涉法检定时，受检工作面的平面度一般不大于（）A
0.01mmB
0.02umC
0.03um
考题
判断题检定千分表工作面的平面度用二级平晶用技术光波干涉法检定。A
对B
错
考题
单选题用平面平晶检定量具表面平面度时，当入射角不变，而厚度各处有变化，干涉带发生于厚度相等的地方，这种现象称为（）。A
球面干涉B
等厚干涉C
等倾干涉
考题
单选题用平晶以光波干涉法检定量具工作面的平面度时，出现干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。A
球面干涉B
等倾干涉C
等厚干涉
考题
问答题检定千分尺测量面平面度时，初学人员用平面平晶往往在测量面上产生不了干涉条纹，主要原因是什么？
考题
单选题外径千分尺平面度用二级平晶按（）检定A
光波法B
光干涉法C
光条纹法D
干涉条纹法
考题
填空题技术光波干涉法可以检定测量面的平面度，是利用光波（）原理。