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对于良好绝缘的tanδ测试,在额定电压以下时,随着试验电压U的升高而()。

  • A、升高
  • B、降低
  • C、基本不变

参考答案

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考题 当试品绝缘受潮时,随着试验电压U的变化,tanδ值呈开口环曲线。A对B错

考题 于良好绝缘的tanδ测试,在额定电压以下时,随着试验电压U的升高而()。A升高B降低C基本不变

考题 对于良好绝缘的tanδ测试,在额定电压以下时,随着试验电压U的升高而基本不变。A对B错

考题 对于良好绝缘的tanδ测试,在额定电压以下时,随着试验电压U的升高而降低。A对B错

考题 当试品绝缘中存在气隙时,随着试验电压U的变化,tanδ值呈闭合的环状曲线。A对B错

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考题 当试品绝缘受潮时,随着试验电压U的变化,tanδ值呈开口环曲线。

考题 当试品绝缘中存在气隙时,随着试验电压U的变化,tanδ值呈闭合的环状曲线。

考题 tanδ测试时,随着试验电压U的变化,tanδ值呈开口环曲线,则试品属于()。A、良好绝缘B、绝缘中存在气隙C、绝缘受潮

考题 对于良好绝缘的tanδ测试,在额定电压以下时,随着试验电压U的升高而降低。

考题 对于良好绝缘的tanδ测试,在额定电压以下时,随着试验电压U的升高而基本不变。

考题 PN结的反向漏电流()而急剧增大。A、随着电压的升高B、随着电压的降低C、随着温度的升高D、随着温度的降低

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考题 单选题对于良好绝缘的tanδ测试,在额定电压以下时,随着试验电压U的升高而()。A 升高B 降低C 基本不变

考题 判断题对于良好绝缘的Tan6测试,在额定电压以下时,随着试验电压U的升高而降低。A 对B 错

考题 单选题tanδ测试时,随着试验电压U的变化,tanδ值呈开口环曲线,则试品属于()A 良好绝缘B 绝缘中存在气隙C 绝缘受潮

考题 判断题对于良好绝缘的tanδ测试,在额定电压以下时,随着试验电压U的升高而基本不变。A 对B 错

考题 判断题当试品绝缘中存在气隙时,随着试验电压U的变化,tanδ值呈闭合的环状曲线。A 对B 错

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考题 单选题于良好绝缘的tanδ测试,在额定电压以下时,随着试验电压U的升高而()。A 升高B 降低C 基本不变

考题 判断题对于良好绝缘的tanδ测试,在额定电压以下时,随着试验电压U的升高而降低。A 对B 错

考题 判断题当试品绝缘受潮时,随着试验电压U的变化,tanδ值呈开口环曲线。A 对B 错