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单选题
当数据是（产品或过程的）可度量的变量，且处于统计控制状态时，过程的固有变异以过程的“离散程度”表示，并通常以过程分布的（）来测量。
A
两倍标准差
B
三倍标准差
C
四倍标准差
D
六倍标准差
参考答案
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解析：
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考题
关于技术控制状态和统计控制状态的说法，正确的有（ ）。A.没有达到技术控制状态则没有达到统计控制状态B.分析用控制图上的点子在控制限内随机排列，则过程达到统计控制状态C.处于统计控制状态的过程一定处于技术控制状态D.没达到统计控制状态的过程不能计算过程能力指数c，E.处于统计控制状态的过程可能并未达到技术控制状态
考题
关于统计控制状态的谫法，正确的有（ ）。A.判定过程处于统计控制状态时，控制图上的点子均在控制限内B.判定过程处于统计控制状态时，控制图上的点子在中心线上下随机分布C.统计控制状态是指过程只有偶然因素的状态D.统计控制状态是指过程能力充足的状态E.统计控制状态是指过程既有偶然因素又有异常因素的状态
考题
关于处于统计控制状态的过程的说法，正确的有（ ）。A.处于统计控制状态的过程将连续生产出满足规定要求的产品B.处于统计控制状态的过程的过程能力指数Cp大于或等于１C.控制图上没有点子落在控制限外且界内点随机排列时，可判定过程处于统计控制状态D.处于统计控制状态的过程中只有偶因而无异因产生的波动E.处于统计控制状态的过程的性能是可预测的
考题
当分析用控制图显示过程处于统计控制状态时，表明（）。
A.可以利用图中的数据计算过程能力指数
B.过程将持续生产符合规范的产品
C.过程输出是可预测的
D.过程中存在特殊因素的影响
E.过程的过程能力指数Cp＝1
考题
关于统计控制状态与失控状态的说法，正确的有（ ）。
A.当过程中既有偶然因素也有异常因素的影响时，过程处于统计控制状态
B.当过程中只有偶然因素而没有异常因素的影响时，过程处于统计控制状态
C.在统计控制状态下，过程的波动达到最小，不可能再改进
D.过程处于失控状态时，无法估计过程能力
E.当控制图上所有点子都落在控制限内时，可以判定过程处于统计控制状态
考题
当过程处于统计控制状态时，（ ）。
A.过程中不存在偶然因素的影响
B.过程将持续生产出符合规格的产品
C.过程输出是可预测的
D.过程的CP值大于或等于1
E.控制图上没有呈现出失控迹象
考题
关于过程状态的说法，正确的有（ ）。
A.在统计控制状态下，可以预测过程波动的大小
B.当过程处于失控状态时，过程的分布将发生改变
C.过程处于统计控制状态时，CP≥1
D.异常因素会导致过程失控
E.当控制图上所有点子都落在控制限内时，可以判断过程一定处于统计控制状态
考题
生产过程处于统计控制状态的好处是（ ）。[2007年真题]
A.对过程质量可以实时监控
B.过程仅有偶因而无异因的变异
C.过程不存在变异
D.过程的变异最大
E.生产过程质量得到大幅度提高
考题
当数据是（产品或过程的）可度量的变量，且处于统计控制状态时，过程的固有变异以过程的“离散程度”表示，并通常以过程分布的（）来测量。A、两倍标准差B、三倍标准差C、四倍标准差D、六倍标准差
考题
以下关于过程统计控制状态，说法不正确的是（）A、过程中没有异常因素影响，则说过程处于过程统计控制状态B、过程统计控制状态的好处是可预测下一时间的过程波动C、过程处于过程统计控制状态，则说明过程的产品处于规格限内D、过程统计控制状态是进行过程能力分析的前提条件
考题
单选题从SPC的角度看，一个合格的过程应当具备的条件是（ ）。[2006年真题]A
过程处于统计控制状态B
具有足够的生产能力C
过程处于统计控制状态并具有足够的过程能力D
过程处于统计控制状态但过程能力不足
考题
单选题以下关于过程统计控制状态，说法不正确的是（）A
过程中没有异常因素影响，则说过程处于过程统计控制状态B
过程统计控制状态的好处是可预测下一时间的过程波动C
过程处于过程统计控制状态，则说明过程的产品处于规格限内D
过程统计控制状态是进行过程能力分析的前提条件
考题
单选题加工一种轴承，其规格为10±0.08mm。要求Cpk≥1。收集25组数据绘制分析用控制图，未显示异常。计算得到： μ=10.04mm，σ=0.02mm 根据以上材料，回答：下列论述正确的是（）。A
过程处于统计控制状态和技术控制状态B
过程处于统计控制状态，未处于技术控制状态C
过程未处于统计控制状态，处于技术控制状态D
过程未处于统计控制状态和技术控制状态
考题
单选题从SPC的角度看，一个合格的过程应当具备的条件是（）。A
过程处于统计控制状态B
具有足够的生产能力C
过程处于统计控制状态并具有足够的过程能力D
过程处于统计控制状态但过程能力不足
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