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一般用()法检查接触点数或面积,确定平面的平面度。

  • A、涂色
  • B、刮研
  • C、珩磨
  • D、测量

参考答案

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考题 刮研平面的质量常以25×25m/m,面积内接触点数来表示。() 此题为判断题(对,错)。

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考题 用平晶以光波干涉法检定量具工作面的平面度时,出现干涉条纹或干涉环,其干涉原理是()。A、球面干涉B、等倾干涉C、等厚干涉

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考题 测量一个工件上下两个平面的平行度,可以用检验平板的精确平面作为模拟基准,按照(),可以认为下平面为基准要素,以与基准平行作两个包容实际表面的平行平面,形成最小包容区域,以其间距离定为平行度误差值。A、要求把零件用千斤支起B、要求把零件的下平面用检验平铁放在平板上C、最大条件把零件的下平面与平板接触D、最小条件把零件的下平面与平板接触

考题 检定千分表工作面的平面度用二级平晶用技术光波干涉法检定。

考题 在白光情况下,用平晶以技术光波干涉法检定量具工作面的平面度时,受检工作面的平面度一般应不大于()。A、0.001mmB、0.002mmC、0.003mm

考题 若有一量具工作面的平面度为0.010mm,为了达到检定结果的准确起见,该工作面的平面度采用合适的检定方法为()。A、用刀口尺以光隙法检定B、用平晶的技术光波干涉法检定C、用刀口尺以量块比较法检定

考题 以技术光波干涉法检定深度千分尺基座工作面的平面度所用的2级平晶,其工作面的平面度不大于()A、0.03umB、0.05umC、0.10um

考题 用平面平晶的技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时,出现的干涉条纹或干涉环,其干涉原理是()。A、球面干涉B、等倾干涉C、等厚干涉

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考题 单选题用平面平晶的技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时,出现的干涉条纹或干涉环,其干涉原理是()。A 球面干涉B 等倾干涉C 等厚干涉

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考题 单选题某一量具工作面的平面度,若在白光情况下用平晶以技术光波干涉法检定时,受检工作面的平面度一般不大于()A 0.01mmB 0.02umC 0.03um

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考题 单选题用平晶以光波干涉法检定量具工作面的平面度时,出现干涉条纹或干涉环,其干涉原理是()。A 球面干涉B 等倾干涉C 等厚干涉

考题 单选题长边尺寸为1000mm的直角尺,其工作面的平面度或直线度的检定,通常采用的检定方法是()。A 用刀口尺以光隙法检定B 用平晶以技术光波干涉法分段检定C 用自准直仪以节距法检定