考题
国产斜探头多以K值标称,它等于斜探头在钢中的()。
考题
斜探头K值的测定应在（）近场区以外进行。A、1倍B、2倍C、3倍D、10倍
考题
横波探头晶片尺寸一定时，K值与近场区长度的关系为（）A、K值增大时，近场区长度不变B、K值增大时，近场区长度增大C、K值增大时，近场区长度减小D、K值与近场区长度无关
考题
斜探头折射角β的正切值为k值，即k=tgβ。
考题
斜探头的K值常用CSK-ⅠA试块上的φ50和φ1.5横孔来测定。
考题
国产斜探头多以K值标称，它等于斜探头在（）中折射角的（）
考题
CSK－ⅠA试块的的R50、R100圆弧面，可用来测定（）。A、 直探头的的远场分辨力B、 斜探头的K值C、 斜探头的入射点D、 斜探头的声束偏斜角
考题
在实际超声波检测中，测定探头声速轴线偏离与横波探头的K值应规定在2N以外进行测定。
考题
横波探头晶片尺寸一定，K值增大时，近场区长度减小。
考题
斜探头横波声场近场区分布在两种介质中，在晶片尺寸和频率相同时近场区长度随横波探头K值的增大而（）。 A、 增大B、 不变C、 减小D、 都有可能
考题
测定探头的K值或βs应在近场区内进行，因为近场内声压最高点在声束轴线上，测试误差小。
考题
JB1152-81标准规定，斜探头K值的测定应在声场的（）。A、1.67N以外进行B、N以外进行C、2N以外进行D、3N以外进行
考题
CSK-IA试块将IIW试块的φ50孔改为φ40、φ44和φ50台阶孔，其目的是（）A、测定斜探头K值B、测定直探头盲区范围C、测定斜探头分辨率D、以上全部
考题
斜探头K值的测定应在声场的（）。A、1.67N以外进行B、N以外进行C、2N以外进行D、3N以外进行
考题
简述斜探头的K值与钢中近场区长度之间的关系。
考题
单选题斜探头K值的测定应在（）近场区以外进行。A
1倍B
2倍C
3倍D
10倍
考题
问答题简述斜探头的K值与钢中近场区长度之间的关系。
考题
判断题测定探头的K值或βs应在近场区内进行，因为近场内声压最高点在声束轴线上，测试误差小。A
对B
错
考题
单选题斜探头横波声场近场区分布在两种介质中，在晶片尺寸和频率相同时近场区长度随横波探头K值的增大而（）。A
增大B
不变C
减小D
都有可能
考题
问答题为什么测定斜探头的K值必须在2N以外进行？
考题
问答题为什么测定探头的K值必须在2N以外进行？
考题
判断题在实际超声波检测中，测定探头声速轴线偏离与横波探头的K值应规定在2N以外进行测定。A
对B
错
考题
单选题横波探头晶片尺寸一定时，K值与近场区长度的关系为（）A
K值增大时，近场区长度不变B
K值增大时，近场区长度增大C
K值增大时，近场区长度减小D
K值与近场区长度无关
考题
单选题CSK-IB试块将IIW试块的Φ50孔改为Φ40、Φ44、Φ50台阶孔，其目的是（）A
测定斜探头K值B
测定直探头盲区范围C
测定斜探头分辨力D
以上全是